微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
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成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫等。
發(fā)布時(shí)間:2025-05-30
關(guān)鍵詞:鈦合金成分取樣檢測(cè)范圍,鈦合金成分取樣項(xiàng)檢測(cè)報(bào)價(jià),鈦合金成分取樣檢測(cè)機(jī)構(gòu)
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因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(ICP-OES):通過(guò)高溫等離子體激發(fā)樣品原子產(chǎn)生特征光譜進(jìn)行多元素定量分析
惰性氣體熔融紅外法:采用脈沖加熱爐熔融樣品測(cè)定氧氮?dú)錃怏w元素
X射線熒光光譜法(XRF):利用特征X射線強(qiáng)度實(shí)現(xiàn)非破壞性快速成分篩查
火花直讀光譜法:適用于塊狀樣品的表面元素快速半定量分析
金相顯微鏡分析法:通過(guò)浸蝕劑顯示顯微組織并評(píng)定α/β相分布狀態(tài)
掃描電子顯微鏡(SEM):配合能譜儀(EDS)進(jìn)行微區(qū)成分與斷口形貌聯(lián)合分析
電子探針微區(qū)分析(EPMA):實(shí)現(xiàn)μm級(jí)區(qū)域元素分布面掃描成像
輝光放電質(zhì)譜法(GDMS):用于超高純度鈦中痕量雜質(zhì)元素的ppb級(jí)測(cè)定
激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS):支持現(xiàn)場(chǎng)快速原位分析的便攜式技術(shù)方案
熱重分析法(TGA):測(cè)定高溫氧化增重速率評(píng)估材料抗氧化性能
全譜直讀等離子體光譜儀:配置耐氫氟酸進(jìn)樣系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)酸溶法全元素測(cè)定
氧氮?dú)渎?lián)測(cè)儀:集成脈沖電極爐與紅外/熱導(dǎo)雙檢測(cè)器模塊
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡:配備EBSD系統(tǒng)進(jìn)行晶體取向與織構(gòu)分析
高溫蠕變?cè)囼?yàn)機(jī):具備三軸應(yīng)力加載與真空環(huán)境模擬功能
旋轉(zhuǎn)彎曲疲勞試驗(yàn)臺(tái):支持10^7周次高周疲勞性能測(cè)試
同步熱分析儀:同步采集TGA-DSC數(shù)據(jù)研究相變溫度區(qū)間
顯微硬度計(jì):配備努氏壓頭測(cè)量涂層/界面過(guò)渡區(qū)力學(xué)特性
X射線殘余應(yīng)力分析儀:采用sinψ法測(cè)定加工表面應(yīng)力分布
超聲波探傷儀:配備聚焦探頭實(shí)現(xiàn)大厚度工件內(nèi)部缺陷C掃描成像
激光粒度分析儀:用于增材制造粉末粒徑分布與球形度表征
1、咨詢:提品資料(說(shuō)明書、規(guī)格書等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件